大量供應(yīng)MS2675D-II絕緣電阻測(cè)試儀
簡要描述:大量供應(yīng)MS2675D-II絕緣電阻測(cè)試儀主要功能:測(cè)試電壓、絕緣電阻、時(shí)間同時(shí)顯示,單片微處理器控制測(cè)試,且有合格/不合格判定,聲光報(bào)警。
產(chǎn)品型號(hào):
所屬分類:絕緣電阻測(cè)試儀
更新時(shí)間:2023-11-21
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
MS2675D-II絕緣電阻測(cè)試儀
MS2675D型絕緣電阻測(cè)試儀(智能全數(shù)顯)
測(cè)試電壓:DC 250V/500V/1000V
測(cè)量范圍:1~9999 MΩ, ±3%~±5%, 任意設(shè)定
定 時(shí):1~99s, ±3%, 手控∞
主要功能:測(cè)試電壓、絕緣電阻、時(shí)間同時(shí)顯示,單片微處理器控制測(cè)試,且有合格/不合格判定,聲光報(bào)警。
MS2675D-II絕緣電阻測(cè)試儀
MS2675D-Ⅰ型 絕緣電阻測(cè)試儀(全數(shù)顯)
測(cè)試電壓:DC 500V/1000V
測(cè)量范圍:1~2000 MΩ, ±5%,
MS2675D-II絕緣電阻測(cè)試儀
MS2675D-Ⅱ型絕緣電阻測(cè)試儀(智能液晶顯示)
測(cè)試電壓:DC 250V/500V/1000V
測(cè)量范圍:1~9999MΩ, ±5%, 任意設(shè)定
定 時(shí):1~99s
主要功能:測(cè)試電壓、絕緣電阻、時(shí)間同時(shí)顯示,單片微處理器控制測(cè)試,且有合格/不合格判定,聲光報(bào)警。